波前測(cè)量?jī)x

WaveMaste®是應(yīng)用于球面及非球面光學(xué)系統(tǒng)波前實(shí)時(shí)測(cè)量和分析的儀器，具備高空間分辨率和高精度的特征;WaveMaste®Fied為研發(fā)所設(shè)計(jì)，該系統(tǒng)可在±60°范圍內(nèi)對(duì)整個(gè)視場(chǎng)內(nèi)的樣品進(jìn)行全面測(cè)量，還可進(jìn)行后續(xù)的深入分析；WaveMaster® Compact系列產(chǎn)品可以簡(jiǎn)單快速的完成對(duì)球面或非球面鏡片波前質(zhì)量的檢測(cè)；WaveMaster®PRO系列產(chǎn)品可適應(yīng)波前質(zhì)量的大批量檢測(cè)的需求，可自行設(shè)置合格標(biāo)準(zhǔn)，并根據(jù)該標(biāo)準(zhǔn)自動(dòng)判定合格和不合格；WaveMaster® I0L 2可用于單焦、環(huán)曲面、球面、非球面人工晶體的檢測(cè)，主要測(cè)量屈光度，像差以及基于波前分析計(jì)算的快速M(fèi)TF測(cè)量。